Московское представительство компании Oxford Instruments и Уральский федеральный университет имеют честь пригласить Вас и Ваших коллег на семинар «Применение методов дифракции отраженных электронов в материаловедении».
Семинар проведет специалист по применению метода EBSD Keith Dicks, компания Oxford Instruments NanoAnalysis, Великобритания.
ПРОГРАММА СЕМИНАРА
26 апреля 2012
ауд. Фт-214, Высшая инженерная школа, здание физико-технологического института
10.00 – 10.10 Вступительное слово.
10.10 – 12.10 Лекция Keith Dicks «Применение методов дифракции отраженных электронов в материаловедении»
12.10 – 12.30 Вопросы и ответы
12.30 – 13.00 Перерыв
13.00 – 17.00 Демонстрация и практические занятия на приборе ZEISS åIGMA VP,
ауд. НОЦ-104, здание НОЦ «Наноматериалы и нанотехнологии».
27 апреля 2012
10.00 - 17.00 Демонстрация, практические занятия и обучение на приборах ZEISS Auriga CrossBeam и JEOL JSM 6490,
ауд.Мт-120, Мт-101, здание Института материаловедения и металлургии»
Для участия в семинаре и оформления пропуска в УрФУ необходимо заполнить заявку на участие. С целью своевременного оформления пропусков просим направить заявку
до 23.04.2012г по адресу grokh47@mail.ru
Будем рады видеть Вас в рядах наших слушателей!
Гроховский Виктор Иосифович
Доцент УрФУ
тел.(343) 375-93-74
E-mail: grokh47@mail.ru
